相控阵检测是无损检测技术之一。今天，我们主要介绍相控阵检测的扩展部分——相控阵天线阵。相控阵天线的设计主要是幅度、相位分布和阵元阻抗。阵列大小由最窄波束宽度的宽度和旁瓣电平决定。相位分布主要取决于束流要求。由于阵元方向图和阻抗的限制，平面相控阵的最大扫描范围通常为 ± 60 ° ，为了获得半球形扫描，需要增加一个球面透镜，如果只要求扫描方向图的最大值在空间上移动(扫描) ，则只需要线性相位分布。图案的最大方向垂直于等相面。

       使用数字移相器时，除少数特殊角度外，无法得到精确的线性相位分布。此时，寄生副瓣会在图形的某些方向上出现，其大小与特定的相位分布有关。为了满足这一特殊要求，需要采用方向图综合法预先计算所需的阵列相位分布。例如，将阵列划分为若干个区域，每个区域可视为一个独立的阵列来设计阵列的方向图。

       为了简化馈电结构，一些相控阵天线具有相等的幅度。为了克服高旁瓣电平在等幅分布情况下的缺点，可采用密度加权法，即有源辐射单元在阵列上的分布不均匀，分布密度按一定规律变化。为了改善辐射单元的阻抗特性，在有源辐射单元的边缘放置一个无馈电的被动辐射单元，相控阵天线的辐射单元数目较多。当故障单元数小于5% 时，天线阵列的性能不受影响，可靠性高，相控阵天线在雷达中使用时，波束控制的灵活性大大提高，可以制成多功能雷达，使一台雷达发挥多台常规雷达的作用。

        随着微波集成电路技术的发展和新型移相器的出现，相控阵天线的成本不断降低，体积越来越小，重量也进一步降低。