相控阵检测是指通过控制阵列检测中辐射单元的馈电相位来改变方向图形状的检测。控制相位可以改变检测方向图最大值的方向，从而实现波束扫描。

在特殊情况下，还可以控制副瓣电平、最小位置和整个图案的形状，例如获得余弦平方图案和对图案的自适应控制。采用机械方法旋转检测时，惯性大，速度慢。相控阵检测克服了这一缺点，波束的扫描速度高。它的馈电相位一般由电子计算机控制，且相位变化速度快(以毫秒计)，即检测方向图或其他参数的最大方向变化迅速。这是相控阵检测最大的特点。

一般来说，相控阵检测应该控制每个辐射单元的相位。为了节省移相器和简化控制电路，有时几个辐射单元共用一个移相器。共享移相器的单元组合称为子阵列。

为了降低成本和简化结构，可以将检测设计为在一维范围内(如在水平面上)机械旋转，而采用相位控制来控制波束在另一维范围内(如在垂直平面上)的扫描。这种混合扫描检测得到了广泛的应用。

相控阵检测的关键部件是移相器和检测辐射单元。移相器有两种类型:连续移相器和数字移相器。连续移相器的相移值可以在0°到360°的范围内连续变化，而数字移相器的相移值是离散的，只能是360°× (1/2) ^ n的整数倍，其中n为数字移相器的位数。例如，3位数字移相器的相移值只能为45°、90°、135°、180°、225°、270°、315°和360°。移相器既要保证在一定的频率范围内获得所需的相移值，又要满足一定的功率电阻、温度稳定性等要求，以保证相控阵检测在不同频率和不断变化的环境条件下都能正常工作。

检测辐射单元的设计应使输入阻抗在一定相移范围(或波束扫描范围)和一定频率范围内的变化最小化，以保证发射机的正常工作，防止射频信号多次反射在方向图中产生寄生副瓣和凹点(盲点)。为此，可以采用相互耦合较小的单元或专门的解耦措施。